熱流罩-實驗室測試用控溫設(shè)備chiller

熱流罩-實驗室測試用控溫設(shè)備chiller

熱流罩-實驗室測試用控溫設(shè)備chiller

　　熱風循環(huán)系統(tǒng)為電子設(shè)備的高低溫測試提供穩(wěn)定冷熱源，適用于實驗室、大學、研究所、航空航天、汽車工業(yè)、半導體和電氣測試、化學、制藥、石化、生化、研發(fā)車間、航空航天和生物等行業(yè)。特別是在半導體設(shè)備高低溫測試中，該系統(tǒng)能夠提供準確的溫度控制，滿足嚴格的測試標準

　　1. 核心應(yīng)用場景

　　電子元器件可靠性測試：通過寬溫域循環(huán)，模擬芯片、傳感器等在嚴苛溫度下的熱應(yīng)力效應(yīng)，驗證焊點可靠性與材料熱匹配性。

　　半導體設(shè)備測試：如芯片的耐溫測試，需±0.5℃控溫精度及連續(xù)運行能力，確保測試數(shù)據(jù)穩(wěn)定性。

　　環(huán)境模擬實驗：用于光模塊、5G通信設(shè)備的高溫老化測試，通過強制對流實現(xiàn)溫度均勻性。

　　2. 技術(shù)優(yōu)勢

　　高精度控溫：采用閉環(huán)PID算法+PT100傳感器，溫控精度達±1℃（部分定制機型可達0.05℃），滿足標準。

　　模塊化設(shè)計：支持多臺設(shè)備并聯(lián)運行，單臺備用機組即可覆蓋10臺設(shè)備需求，降低維護成本。

　　強制對流循環(huán)：離心風機驅(qū)動空氣循環(huán)，確保腔體內(nèi)溫度分布均勻。

　　安全防護：內(nèi)置過載保護、高壓開關(guān)及相序保護功能，防爆等級達Ex d IIB T4，適配化工/電子高危場景。

　　3. 典型解決方案

　　AI系列循環(huán)風控溫系統(tǒng)（無錫冠亞）：

　　技術(shù)參數(shù)：-85℃至+125℃溫域，制冷能力10-50kW，支持RS485通信與U盤數(shù)據(jù)導出。

　　應(yīng)用案例：某IGBT芯片企業(yè)采用該系統(tǒng)后，測試效率提升，雜質(zhì)含量降低。

通過上述分析，我們可以看到熱風循環(huán)系統(tǒng)為電子設(shè)備高溫低溫恒溫測試提供了穩(wěn)定可靠的冷熱源，確保了測試的準確性和有效性。這種系統(tǒng)的設(shè)計和應(yīng)用，對于提高電子設(shè)備的性能和可靠性具有一定意義。